概念不同，扫描电镜和透射电镜分析的区别是概念不同，
扫描电镜主要是电子束照射到样品后的二次电子成像，透射电镜的明场像是透射电子成像。
电子显微镜简称电镜，英文名Electron Microscope（简称EM）经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具。
关于这个问题，扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）和透射电镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是两种常用的电子显微镜技术，它们之间有以下几个主要区别：
1. 工作原理：扫描电镜通过扫描样品表面并收集所产生的反射电子来生成图像，而透射电镜则是通过将电子束穿过样品并收集透射电子来生成图像。
2. 分辨率：透射电镜通常具有更高的分辨率，可以观察到更小的细节和结构。典型的透射电镜分辨率约为0.1纳米，而扫描电镜的分辨率通常在几个纳米到几十纳米之间。
3. 样品制备：透射电镜需要将样品切成非常薄的片（通常是几十至几百纳米），并且通常需要使用金属蒸发或离心技术来制备样品。扫描电镜对样品制备要求相对较低，可以直接观察到较大的样品。
4. 适用范围：透射电镜适用于观察样品的内部结构，例如细胞器、晶格结构等。扫描电镜适用于观察样品的表面形貌和微观结构，例如纹理、表面形貌等。
5. 样品环境：透射电镜通常需要在真空中进行观察，因为气体分子会散射电子束。扫描电镜可以在大气压下进行观察，也可以在低真空或环境气氛下进行观察。
总的来说，透射电镜适用于观察内部结构和原子级细节，而扫描电镜适用于观察表面形貌和微观结构。两种技术在电子束的使用、样品制备、观察环境等方面也存在一些差异。
