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sw扫描特征如何使用(sw扫描条件)

sw扫描特征如何使用(sw扫描条件)

更新时间:2025-07-02 09:09:07

sw扫描特征如何使用

SW扫描特征的使用方法是通过扫描仪将样品中的表面形貌信息收集下来,然后通过计算机进行数据处理和分析,以得出样品表面的一些参数特征。
这些特征包括表面形貌参数、粗糙度参数、形状参数等等。
这些参数给出了样品表面的形貌特征和物理特性,对许多领域的研究和应用都有重要的意义,比如在制造业中对零件表面的质量控制、材料研究中对研究材料表面性质等。
除此之外,SW扫描特征的使用还可以拓展到材料形貌分析、建筑设计等领域,为实践应用提供方便、精准的测量技术。

1、首先,打开SolidWorks软件,选中上视基准面,进入到草图编辑页面,绘制一个圆形。

2、退出草图,选中与上视基准面垂直的前视基准面,并绘制一条自由曲线。

3、在“插入”菜单下,点击“凸台/基体”,选择“扫描”。

4、在左侧的“扫描”对话框中,轮廓选择圆形草图,路径选择刚刚建立的自由曲线,此时可以看到预览效果。

5、点击右上角的对号,这样就完成了扫描,建模结果。

这样子操作就能SW扫描特征就搞定了。

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