通常所称的对零位,对于测量范围0~25毫米的千分尺,校对零位时应使两测量面接角;对于测量范围大于25毫米时,应在两测量面间安放尺寸为其测量下限的对量棒后进行测量。
调整零位,必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合,同时要使微分筒上零线对准固定套管上的纵刻线。
通常所称的对零位,对于测量范围0~25毫米的千分尺,校对零位时应使两测量面接角;对于测量范围大于25毫米时,应在两测量面间安放尺寸为其测量下限的对量棒后进行测量。
调整零位,必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合,同时要使微分筒上零线对准固定套管上的纵刻线。