XRD实验可以通过分析衍射峰的宽度，计算出样品的晶粒尺寸。
晶粒尺寸计算的基本原理是Debye-Scherrer方程：D = kλ/βcosθ，其中D是晶粒尺寸，k是形状因子，λ是X射线的波长，β是衍射峰的半峰宽度，θ是衍射角。
在实验中，需要先测量样品的XRD图谱，找到需要分析的晶面，确定对应的衍射峰的位置和半峰宽度。然后，代入上述公式即可计算出晶粒尺寸。
需要注意的是，晶粒尺寸的计算基于一些假设条件，比如假设样品是纯物质、一维则向等等。此外，需要根据样品的不同特性选用相应的k值，比如对于立方晶系的晶体，k=0.9。
晶粒尺寸的计算还可以通过其他方法，比如Scherrer方程、Williamson-Hall方法等，具体方法选择可以根据实验条件和需要来决定。
Scherrer公式计算晶粒尺寸（XRD数据计算晶粒尺寸） 根据X射线衍射理论，在晶粒尺寸小于100nm时，随晶粒尺寸的变小衍射峰宽化变得显著，考虑样品的吸收效应及结构对衍射线型的影响，样品晶粒尺寸可以用Debye-Scherrer公式计算。 Scherrer公式：Dhkl=kλ/βcosθ 其中，Dhkl为沿垂直于晶面（hkl）方向的晶粒直径，k为Scherrer常数（通常为0.89）， λ为入射X射线波长（Cuka 波长为0.15406nm，Cuka1 波长为0.15418nm。），θ为布拉格衍射角（°），β为衍射峰的半高峰宽（rad）。
